ORIETG-X2笔式电磁超声与涡流复合测厚仪是一款无需声耦合剂、非接触式厚度测量的仪器，可实现金属或导磁性物质的厚度测量和表面涂层厚度测量。ORIETG-X2电磁超声具有下列优势：

  (1) ORIETG-X2电磁超声无需耦合剂、无需打磨、无需接触，可隔防腐层、漆层测厚。

  ORIETG-X2电磁超声技术对工件表面要求不高，对粗糙表面无需打磨处理，可实现非接触式测量；对涂层不敏感，可实现含涂层工件的厚度测量，可隔着防腐层测厚；无需声耦合剂，可实现高温工件的厚度测量，可进行温度补偿；

  (2) ORIETG-X2电磁超声兼顾电磁超声测厚和涡流涂层测厚功能。

  ORIETG-X2电磁超声主机和探头集成了电磁超声测厚传感器和涡流涂层测厚传感器，能在测量工件厚度的同时兼顾测量涡流涂层厚度，测厚灵敏度较上代产品有显著提升。

  (3) ORIETG-X2电磁超声具备具备线扫描功能。

  ORIETG-X2电磁超声软件具备B扫描线扫查功能，方便对腐蚀点进行扫查。

(4)  ORIETG-X2电磁超声对工件表面曲率要求低，测厚精度、稳定度较压电超声高。

ORIETG-X2电磁超声对测厚技术人员要求不高，探头可倾斜、无需垂直于工件也可测量，数据稳定性高、重复性 好；可以测量小径管、弯头内侧等区域；特殊设计的测厚算法，测厚精度高，**到 0.01mm。

  (5)  ORIETG-X2电磁超声体积小、方便携带，带保存功能，单人即可完成巡检工作。

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